Erweiterter FLIR-Staubkontrollservice für Kameras für die industrielle Bildverarbeitung

Forscher, Hersteller und Diagnostiker in spezialisierten Bereichen wissen, dass – je kleiner der Maßstab – es umso wichtiger ist, dass die Bildgebungsgeräte frei von Partikeln sind, die eine vergrößerte Probe verdecken oder unscharf machen könnten. Anwendungen wie Fluoreszenzmikroskopie, Zell- oder Tumorklassifizierung, Zytometrie, hämatologische Diagnostik, Displayinspektionen und Halbleiterfertigung erfordern extrem saubere Strahlengänge, um die Genauigkeit und Zuverlässigkeit der Ergebnisse sicherzustellen.

FLIR reinigt und montiert alle optischen Baugruppen der Kameras für die industrielle Bildverarbeitung in der eigenen kanadischen Produktionsstätte in einer ISO-zertifizierten Reinraumumgebung (ISO 7, Klasse 10.000). Dieses Standardniveau bei der Staubkontrolle ist normalerweise für diese Anwendungen ausreichend. „Staub“ ist in diesem Fall als beliebiger Fremdpartikel definiert. Für einige Anwendungen ist jedoch ein noch höherer Standard erforderlich. In diesen Fällen bietet FLIR den erweiterten FLIR-Staubkontrollservice für alle Kameras für die industrielle Bildverarbeitung mit Ausnahme des Modells Blackfly S Board Level (USB3/GigE) und aller Firefly-Modelle an.

Messmethode

Zur Prüfung auf Verunreinigungen werden alle Oberflächen, die Streupartikel enthalten können, unter einer kollimierten Lichtquelle mit der Weber-Kontrastmethode untersucht. Die Standardtoleranz für die Weber-Kontrastschwelle variiert zwischen den Kameramodellen.

Eine Lichtquelle wird in einem festen Abstand zum Kameraobjektivanschluss platziert und bietet eine ungefähre Punktlichtquelle, die F/100 entspricht.

Optische Oberflächenqualitätsmessung (vereinfacht)

Die Abbildung oben zeigt die ungefähre Konfiguration der optischen Oberflächenqualitätsmessmethode von FLIR. Definitionen:

• CO – Deckglas, äußere Oberfläche*
• CI – Deckglas, innere Oberfläche
• SO – Sensorglas, äußere Oberfläche
• SI – Sensorglas, innere Oberfläche

*Beachten Sie, dass die äußere Oberfläche des Deckglases zwar geprüft und gereinigt wird, aber keine Garantie für Staub auf dieser Oberfläche besteht, sobald der Kunde den Strahlengang öffnet.

Bildgebungsparameter:

• Verstärkung = 0 dB
• Die Belichtungszeit wurde so eingestellt, dass die Bildintensität 100 pts im 8-Bit-Pixelformat und ADC beträgt.
• Schwarzwert-Offset = 0

Schwellenwertparameter:

Optische Oberflächen können Anomalien wie Vertiefungen, Kratzer, Beschichtungsmängel, Staub usw. aufweisen. Um zu prüfen, ob die Kameras unseren strengen Standards entsprechen, wird die Größe der Anomalien für die Messung in einen äquivalenten Kreisdurchmesser umgerechnet. (Hinweis: Diese Schwellenwerte gelten nicht für die CO.) Kontaktieren Sie uns, wenn Sie Ihre speziellen Anforderungen und/oder Projektanforderungen besprechen möchten.

Unser Anspruch

Um den speziellen Anforderungen an die Erkennung kleiner Objekte in der Halbleiterfertigung bis zu den strengen Anforderungen an Medizinprodukte gerecht zu werden, bieten unsere Kameras für die industrielle Bildverarbeitung zusätzlich zum erweiterten Staubkontrollservice verschiedene Leistungsmerkmale. Dazu gehören Steuerungs- und Einfrieroptionen für Firmware, lange Produkt-Support-Zyklen (> 10 Jahre) sowie Hardware- und Software-Funktionen, die es Integratoren ermöglichen, eine hochpräzise Farbwiedergabe und Schwachlichtleistung einzustellen.

Dank dieser Leistungsmerkmale sind die FLIR-Kameras für die industrielle Bildverarbeitung besonders geeignet für anspruchsvolle Anwendungen in der biomedizinischen Technik, der optischen Produktentwicklung, der Halbleiterfertigung, der Weltraumforschung und in anderen Spezialgebieten.

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